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| RX Solutions CT 功能展示(一) |
| 發布者：admin 點擊：2495 發布時間：2020-12-8 |
01幾何學和計量學
RX solutions計算機斷層掃描是一項功能強大的無損檢測技術，允許在多種可能性中檢測復雜的組件和材料。CT是基于無損方式提供檢測結果的一種簡單而有效的方法，重要的生成數據，通過重構完整的 3D 模型來觀察內部特征。使用 CT 可以執行多種應用，從傳統的工業分析（如工藝缺陷檢測樣品（空隙、裂紋、孔隙、夾雜物）到測量任務，作為外部的尺寸測量以及復雜幾何的內部特征。計量和測量應用要求對產生的CT體積進行虛擬分割，以分離不同的組件（材料、空氣、泡沫等）并創建表面分析。3D 模型允許在大多數樣品中進行大量測量，包括傳統測量設備作為光學或接觸式測量無法實現的復雜測量。
 02坐標尺寸測量
X 射線計算斷層掃描應用于越來越多的工業尺寸計量。產品的復雜性和多樣性，加上對生產和產品開發的成本和時間效率解決方案的要求，在測試產品和產品質量方面帶來了新的挑戰。CT 是一種強大的無損技術，能夠測量和表征 3D 體積中物體的內部和外部結構，以計算表面和特征上的各種參數。與形狀復雜性不同，基于CT生成的高密度3D點云體積，可以執行任何傳統的測量，包括GD&T尺寸測量和位置公差，如平行度、垂直度、同心度...無損和非接觸式測試允許檢測多個工業部件。在大多數情況下，CT 成為鑒定和檢查復雜零件或組裝件的基本技術。
 03壁厚分析——材料厚度的測定
 壁厚是工業設計師必須解決的許多計量難題之一。大多數工業部件，包括管道、瓶子、藥丸、渦輪葉片，均按壁厚指定，以確保預期的機械強度和重量。測量 CT 掃描生成的3D體積的材料厚度非常易于觀察。結果使用顏色代碼顯示，顯示厚度超過給定公差的區域，并提供最小、******、平均值或標準偏差。壁厚分析完成樣品的表征，提供易于觀察計算的 3D 彩色視圖和橫截面壁厚測量。
    RX為您提供強大和高質量的X射線計算機斷層掃描系統，在復合材料方向計算機斷層掃描和RX Solutions解決方案系統均可以給予您幫助。
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